公告名稱
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溫度量測校正方法、電子系統及校正迴歸係數表的產生方法
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技術領域
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光電
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產業應用範圍
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工業、醫療
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公告智權項目
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項次
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權利類別
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智慧財產權名稱
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1
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專利
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溫度量測校正方法、電子系統及校正迴歸係數表的產生方法
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智慧財產權公告摘要:
項次1
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智慧財產權名稱
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溫度量測校正方法、電子系統及校正迴歸係數表的產生方法
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權利類別
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專利
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權利技術簡介(摘要)
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一種溫度量測校正方法，用於一溫度感測裝置，該溫度感測裝置包含有一機殼以及設置於該機殼內部之一焦平面陣列模組，該溫度量測校正方法包含有：量測一環境背景溫度、該機殼之溫度以及該焦平面陣列模組之操作溫度；根據該環境背景溫度、該機殼之溫度以及該焦平面陣列模組之操作溫度，決定出複數個熱輻射校正迴歸係數；利用該溫度感測裝置感測一物體所輻射出之紅外線能量，以產生一電子訊號；以及根據該複數個熱輻射校正迴歸係數以及該電子訊號計算出該物體之一實際溫度值。
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專利申請國別及申請號
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中華民國
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106145603
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