公告名稱
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陶磁相移器生產良率提升等技術
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技術領域
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電子
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產業應用範圍
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陶磁相移器模組組測生產優化
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公告智權項目
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項次
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權利類別
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智慧財產權名稱
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1
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營業秘密
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陶磁相移器組裝生產良率提升技術
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2
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營業秘密
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陶磁相移器5A站測試生產效率提升技術
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3
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營業秘密
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陶磁相移器驅動電路板組件(CCA)測試生產效率提升技術
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4
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營業秘密
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陣列波束掃描控制組件(BSC-A)測試生產效率提升技術
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5
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營業秘密
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波束掃描中心板件含記憶卡(BSC-C)測試生產效率提升技術
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智慧財產權公告摘要:
項次1
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智慧財產權名稱
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陶磁相移器組裝生產良率提升技術
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權利類別
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營業秘密
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權利技術簡介(摘要)
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本智財權用於天線系統中陶磁相移器模組的生產，使用本智財權可使組裝良率提升，進而達到縮短人力工時與材料耗損的效益。
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項次2
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智慧財產權名稱
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陶磁相移器5A站測試生產效率提升技術
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權利類別
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營業秘密
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權利技術簡介(摘要)
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本智財權用於天線系統中陶磁相移器模組的生產，使用本智財權可使測試效率提升，進而達到縮短人力工時的效益。
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項次3
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智慧財產權名稱
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陶磁相移器驅動電路板組件(CCA)測試生產效率提升技術
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權利類別
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營業秘密
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權利技術簡介(摘要)
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本智財權用於陶磁相移器模組中驅動電路板組件的生產，使用本智財權可使測試效率提升，進而達到縮短人力工時的效益。
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項次4
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智慧財產權名稱
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陣列波束掃描控制組件(BSC-A)測試生產效率提升技術
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權利類別
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營業秘密
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權利技術簡介(摘要)
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本智財權用於天線系統中陣列波束掃描控制組件的生產，使用本智財權可使測試效率提升，進而達到縮短人力工時的效益。
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項次5
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智慧財產權名稱
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波束掃描中心板件含記憶卡(BSC-C)測試生產效率提升技術
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權利類別
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營業秘密
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權利技術簡介(摘要)
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本智財權用於天線系統中波束掃描中心板件的生產，可使測試效率提升，進而達到縮短人力工時的效益。
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鄧清丰 專利工程師
(03)4712201#350624
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